金屬化薄膜電容器的失效原因分析
2024-01-13 15:37:00
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金屬化薄膜電容器的失效原因主要包括以下幾個(gè)方面：
介質(zhì)薄膜的擊穿引起的短路失效：當(dāng)金屬薄膜電容器介質(zhì)薄膜擊穿后絕緣無(wú)法恢復(fù)時(shí)，會(huì)造成短路失效。短路失效主要與自愈能量的大小及自愈時(shí)產(chǎn)生的熱量能否及時(shí)散發(fā)相關(guān)。
端部噴金層脫落造成的開(kāi)路失效和電容量損失過(guò)多引起的失效。
以上內(nèi)容僅供參考，如需獲取更多信息，建議查閱金屬化薄膜電容器相關(guān)書(shū)籍或咨詢專(zhuān)業(yè)人士。
局部放電造成由于加工過(guò)程中介質(zhì)中存在微小氣隙，金屬化電容器“過(guò)度自愈”造成氣隙，導(dǎo)致金屬化薄膜電容器在高電壓作用下產(chǎn)生局部放電，電容器內(nèi)部會(huì)迅速大量的熱，來(lái)不及散發(fā)，又造成周?chē)橘|(zhì)的進(jìn)一步破壞，局部放電加劇，形成惡性循環(huán)。
介質(zhì)薄膜的擊穿引起的短路失效：當(dāng)金屬薄膜電容器介質(zhì)薄膜擊穿后絕緣無(wú)法恢復(fù)時(shí)，會(huì)造成短路失效。短路失效主要與自愈能量的大小及自愈時(shí)產(chǎn)生的熱量能否及時(shí)散發(fā)相關(guān)。
端部噴金層脫落造成的開(kāi)路失效和電容量損失過(guò)多引起的失效。
以上內(nèi)容僅供參考，如需獲取更多信息，建議查閱金屬化薄膜電容器相關(guān)書(shū)籍或咨詢專(zhuān)業(yè)人士。
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